四探針電阻率測試是一種常用的電學測量方法，特別適用于測量半導體材料和薄膜的電學性質(zhì)。此方法基于歐姆定律，即電流通過導體時，電流與電壓成正比，比例常數(shù)為電阻。

測試中，四個等間距配置的探針接觸被測材料的表面。其中兩個探針用于施加電流，另外兩個探針用于測量電壓。通過測量得到的電流和電壓值，可以計算出材料的電阻率。這種方法能夠消除接觸電阻對測量結果的影響，因此可以得到更準確的電阻率值，特別是在測量高阻值材料或薄膜時具有明顯優(yōu)勢。

為了提高測量的準確性和穩(wěn)定性，四個電極（探針）的排列方式至關重要。兩個電流探針之間以及兩個電壓探針之間都應保持一定距離，以避免電流或電壓的變化受到相鄰電極的影響。

四探針法的原理還可以擴展到測量材料的電導率、載流子濃度等其他電學性質(zhì)。通過改變探針間的距離和布置方式，可以得到不同方向上的電學性質(zhì)分布，從而更全面地了解材料的電學特性。

總之，四探針電阻率測試原理簡單而有效，對于研究材料的電性質(zhì)、導電性等具有重要意義，并為材料科學研究提供了重要的實驗手段。